GB/T 17626 的本部分适用于电气、电子设备的电磁场辐射抗扰度要求，规定了试验等级和必要的试验程序。
本部分的目的是建立电气、电子设备受到射频电磁场辐射时的抗扰度评定依据。在本部分中给出的试验方法描述了评估设备或系统抵抗一定环境的抗扰度的符合性方法。
注 1。如 GB/Z18509 所述，本部分是供有关专业标准化技术委品会使用的基础 EMC 出版物。同时在 GB/Z18509
中规定，有关专业标准化技术委员会负责确定此抗扰度测试标准是否适用，如适用，他们有责任确定适合的试验等级及性能判据。全国电磁兼容标准化技术委员会（SAC/TC 246）及其分会与有关专业标准化技术委员会合作，以评估对其产品的特定抗扰度试验的试验等级及性能判据。本部分适用于防止所有发射源的射频电磁场的抗扰度试验。特别关注对防止数字无线电话和其他射频发射装置的射频辐射。
注 2∶本部分规定了评估 EUT在电磁辐射状况下受影响程度的试验方法。电磁辐射的模拟和测量对定量确定这种
影响程度是不够准确的。所定义试验方法的宗旨是为定性分析建立一个对各种 EUT 均可获得良好重复性测量结果的方法。
本部分是一个独立的试验方法。不可使用其他试验方法替代来声称符合本部分。

《GB T 17626.3-2016 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验》